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C测试仪 3504-50
作者： 时间：2023-03-03 18:00:00 来源：
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| 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 |
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- 高速测量2ms
- 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
- 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能
- 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
- 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
- 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
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| 输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件 |
| 基本参数 |
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| 测量参数 |
Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） |
| 测量范围 |
C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000 |
| 基本确度 |
（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数 |
| 测量频率 |
120Hz, 1kHz |
| 测量信号电平 |
恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) |
| 输出电阻 |
5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外） |
| 显示 |
发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定） |
| 测量时间 |
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 机能 |
4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外） |
| 电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 体积及重量 |
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 |
电源线×1，预备电源保险丝×1 | |
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